测试方法
●GJBI50.3-86高温试验方法。
●GJBI50.4-86低温试验方法。
●GJB150.5-86温度冲击试验
●GB/T 2423.22-2012环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化
●GB/T5170.2-2017环境试验设备检验方法第2部分:温度试验设备
●GB/T2423.1-2008电I电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温。
●GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温。
测试指标
高温箱(1)预热上限温度: +200C、升温时间:常温-→+200C ≤25min
注:升温时间为高温箱单独运转时的性能
低温箱: (1)预冷下限温度: -55C、降温时间:常温-55C≤60min
注:降温时间为低温箱单独运转时的性能
试验区:(1)高温冲击温度范围: +60C- +180C、低温冲击温度范围: -40C~O°C
温度波动度:≤ ±0.5°C
温度均匀度:≤±2.0°C
温度偏差: ±2.0°C (≤+150°C时) ,±3.0°C (> + 150°C时)
冲击恢复时间:≤5min以内完成
风[ ]转换时间: 3秒以内完成
试验负载: 300W发热量5kg铝片