HAST用来评估电子元器件在潮湿环境中的可靠性能，通过模拟严的温度、高湿度，提高水汽压力，使得包封料或密封料渗透分层，或沿着外部保护材料和金属导体个面的渗透，导致样品失效。
制造厂商:广东德瑞检测设备有限公司
HAST常用测试条件：HAST高加速老化试验箱加读视试条件，与85C高温，85%RH高湿试条性而言，HAST更加容易产生水分湿气，从而导致产品或器生库蚀、绝缘劣化，较为快速发现产品设计故障，根要提高试验设备创造更大经济效益从而发生更大作用的话，那就需要巧妙的运用延长紫外老化试验箱的寿命，根据以下的使用方法决进行是有效的对试验仪器很大的帮助，既可以节省设备的维护成本和减少不必要的损耗。那么我就来为大家介绍介绍:
1、机身的周围和底部的地面需要随时能够保持清洁
2、机器在于操作前应先将内部的杂质(物)清除:实验室内应当每年至少清洁一次以上
3、冷凝最应当定期的保养，从而保持清洁。灰尘粘糊在冷紧器会使得压缩机高压开关跳脱而会产生误以报警的警报，冷紧器应当定期的每月保养，贿之利用真空吸4露将冷经器散热网片上附着一些的吸除或开机后使用质源的毛剧剧以至于清洗工净或用高压气媒饮干净灰4
4、开关门或从箱体内部取出测试物时,不得让物品与门密封条接触:
5、换气老化试验箱当试验产品时间到达后取出产品时，应当必须在关机状态下由此进行取放产品.
6、制冷系统是老化试验箱的核心，请务必在半年巡检一次所有铜管有无泄漏等情况 ,各种功能的接头、焊接口，如果有油渍外泄，必须立即处理
7、每次的试验结束，则是建议用清水清洗干净试验箱体，以确保保持设备的清洁:箱体清洁后，应当对箱体进行供干，保持箱体干燥.
8、电路断路器、超温保护器，会提供本机测试品以及操作者的安全保护，故是请定期检查，
1、加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度、与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命验时间。
2、用于调查分析何时出现电子元器性，和机械零性的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分饰函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的源因所进行的试验。
3、随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器生能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，探用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即PCT和USPCT(HAST)现在力蒸煮试验作为湿热加速试验被IEC(国际电委员会) 所标化，高空低气压试验箱注意事项:USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。