光通讯HAST高压加速老化试验箱仪器用途:
光通讯高压加速老化试验箱又称为高压加速老化试验箱，适用于国防、航天、汽车部件、电子季配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板多层线路板、1C、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段 用于快奥是露产品的缺降和演弱环节。测试其制品的对天性，气密性。测说半导体封装之湿气能力，得测产品被置于平苛之温度、湿度及乐力下观试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，第见之故障方式为主动金属化区域南她造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
[产品特点]
1) 采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率2) 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接中击产品，以免造成产品局部破坏.
3) 门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点
4)试验前排冷空气试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.5) 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时
6) 水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.
7) tank耐压设计，箱体耐压力(150°C)2.65kg，符合水压测试6kg
8) 二段式压力安全保护装置，采两殷式结合控制器与机械式压力保护装置
9) 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮
10)偏压测试端子耐压可达3000V(选配)
11) USB导出历史记录数据，曲线.
HAST澡分曲线
澡盘曲线(Bathtub curve、失效时期) ，又用称为浴缸曲线微笑曲线，主要是显示产品的于不同时期的失效率，主要包含早天期(早期失效期)、正常期(随机失效期) 、损耗期(退化失效期)以环境试验的可靠度试验箱来说得话，可以分篇筛选试验、加速寿命试验(耐久性试验)及失效率试验等。进行可靠性试验时”试验设计”、"试验执行"及"试验分析“应作一个整体来综合考虑。
HAST高加速老化试验箱结构
试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能产生100%(润湿)环境的水加热器，待测品经过PINDAR品达环试PCT试验所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的。
为什么要做HAST试验呢?
环境应力造成电子产品故道的比例来说，高度占2%、盐营占4%，沙尘占6%，振动占28%、而涯混度去占了高达60%，所以电子产品对于且湿度的影响特别显著，但由于传统高温高温试验(如: 40C/90%R,H,85C/85%R.H60C/95%R.H 所需的时间较长，为了加速材料的吸温速率以及缩短过验时间，可使用加速试验设备HAST高加速老化试验镇，PCTI力锅]) 来进行相关试验，也就所谓的(退化失效期、损耗期)试验，更多需要也可以选购PCT高压加速老化试验机
